Optics Coating Substrate Wafer
　Properties
　Wafer Size 　8”
　Crystal Growth Method

　CZ
　N Index
　Ellipsoid-Meter
　/ U.S.A
　(AM0928-A2312)
 　>3.65
　Thickness

　>700um
　Dopant

　P (1-0-0)
　k Index 　< 2
   
 
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